半導体薄膜を光で瞬時測定 阪大などが電極不要の新技術開発
半導体薄膜の電気的特性を、電極を作らずに光だけで瞬時に見積もる——。大阪大学の岡本章宏大学院生、永井正也准教授、芦田昌明教授らは1月27日、日邦プレシジョン（山梨県韮崎市）と共同で、反射係数から薄膜の面伝導度を直接導く解析モデルを開発したと発表した。
半導体薄膜
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中国商務省、日本産半導体材料「ジクロロシラン」 反ダンピング調査開始
中国商務省は2026年1月7日、日本から輸入されるジクロロシラン（DCS）について反ダンピング調査を開始した。半導体の薄膜工程で使われる材料で、申請者は中国の唐山三孚電子材料だ。調査対象の取引期間は2024年7月1日から2025年6月30日までで、調査の結論は将来の追加関税の可否に直結しうる。
